德州儀器 (TI) 宣佈推出滿足惡劣環境的業界首款高溫非揮發性快閃記憶體裝置，該 SM28VLT32-HT 具有 4 MB 工作容量，毋需耗費昂貴成本再對工業級元件進行產品資料表規格以外的篩選 (up-screening) 與認證測試。該裝置不但可在極端溫度下實現資料記錄，還可確保在如油氣探勘、重工業以及航空等惡劣環境應用中至少工作 1000 小時。詳情資訊或訂購樣品與 EVM，請參見網頁：www.ti.com/sm28vlt32-ht-pr-tw。
SM28VLT32-HT 主要特性與優勢：
· 最寬泛溫度範圍：唯一可在 -55 C 至 +210 C 溫度範圍內工作的非揮發性快閃記憶體裝置；
· 高可靠度：經過測試可在裝置整體工作壽命內，於整個溫度範圍下實現穩健的讀／寫操作；
· 更短設計時間：無需外部組件，可幫助製造商快速安全地開發各種可符合惡劣環境的應用，將開發、測試與認證時間縮短 6 個月；
· 小型增强型封裝：SM28VLT32-HT 可採用陶瓷扁平封裝 (ceramic flat pack) 或已知良品晶圓 (Known Good Die ; KGD) 封裝，允許在多晶片模組中整合小型封裝，充分滿足電路板空間有限的系統需求；
· 串列介面：SPI 介面可簡化設計與封裝，減少接脚數。
封裝、供貨情况與價格
採用 8 mm x 25 mm陶瓷扁平封裝的 SM28VLT32-HT 現已開始提供樣品，將於 2013 年第 1 季提供 KGD 封裝選項，並投入量産。
工具與支援
HTFLASHEVM 評估模組內建於增强型電路板，可在更高溫度下實現更簡易的評估，該評估模組現已開始提供。
TI E2E™ 社群的高可靠論壇可爲客戶提供支援，透過此論壇，工程師可與 TI 專家互動並諮詢問題。
互補型產品系列滿足高可靠度
SM28VLT32-HT 可對 TI 全系列類比及嵌入式處理産品形成有力互補，充分滿足 SM470R1B1M-HT ARM7TDMI™ 微控制器與 SM320F28335-HT Delfino™ 數位訊號控制器等高溫、高可靠度應用需求。
TI 高溫産品系列：
· 購買 SM28VLT32-HT 的樣品：www.ti.com/sm28vlt32-ht-sample-pr；
· 購買 HTFLASHEVM 評估模組：www.ti.com/sm28vlt32-ht-evm-pr；
· 下載産品說明書：www.ti.com/sm28vlt32-ht-ds-pr；
· 深入瞭解 TI 全系列高溫 IC 産品及相關系統方框圖：www.ti.com/hightemp-pr；
· 下載 TI 高溫産品指南：www.ti.com/hightempguide-pr；
· 透過 Plurk 與 TI 即時互動：www.plurk.com/TITW；
· 透過 Twitter與 TI 即時互動：twitter.com/TXInstrumentsTW；
· 透過 Facebook與TI即時互動：www.facebook.com/texasinstrumentsTW。
